半导体测试技术题库
题库介绍:
半导体测试技术题库,主要涵盖了半导体器件、集成电路以及相关测试方法的各类理论知识与实践应用题目。其中包括对半导体材料特性、半导体物理基础、器件结构及工作原理的深入理解测试;集成电路设计、制造工艺中的测试验证内容;各种测试设备的操作与应用,如晶圆测试(Wafer Sort)、封装完成后的最终测试(Final Test)等;还有故障分析、良率提升相关的测试策略和技术问题。此外,题库还囊括了新型半导体技术如SOC、MEMS等的特定测试技术和挑战。通过这套题库,旨在全面考核和提升测试工程师的专业技术水平,以满足日益发展的半导体行业对产品质量保证和控制的需求。 总计题目数量:133
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[名词解释] STMicroelectronics
[名词解释] Motorola
[名词解释] Qualcomm
[名词解释] Broadcom
[名词解释] Fabless
[名词解释] Marvell
[名词解释] TSMC
[名词解释] Silterra
[名词解释] Nvidia
[问答题] Open-short串行静态测试方法优缺点。
[问答题] VOH/IOH静态测试方法。
[问答题] 测试的一般要求。
[问答题] IIL串行测试方法。
[问答题] IIH/IIL集体测试法优缺点。
[问答题] 静电的产生。
[名词解释] 气敏电阻
[名词解释] 热电效应
[名词解释] 热释电效应